Lehrveranstaltungshandbuch KAT1
Bildsensortechnik
PDF Lehrveranstaltungsverzeichnis English Version: KAT1
Version: 3 | Letzte Änderung: 29.09.2019 13:46 | Entwurf: 0 | Status: vom verantwortlichen Dozent freigegeben
| Langname | Bildsensortechnik |
|---|---|
| Anerkennende LModule | KAT1_BaMT |
| Verantwortlich |
Prof. Dr.-Ing. Dirk Poggemann
Professor Fakultät IME |
| Gültig ab | Sommersemester 2022 |
| Niveau | Bachelor |
| Semester im Jahr | Sommersemester |
| Dauer | Semester |
| Stunden im Selbststudium | 60 |
| ECTS | 5 |
| Dozenten |
Prof. Dr.-Ing. Dirk Poggemann
Professor Fakultät IME |
| Voraussetzungen | Grundlegende Kenntnisse in der Elektronik (Modul "Elektronik\") und Optik und Sensorik (Module "Phototechnik 1", "Phototechnik 2" und "Phototechnik 3") |
| Unterrichtssprache | deutsch, englisch bei Bedarf |
| separate Abschlussprüfung | Ja |
Literatur
| G. C. Holst, T. S. Lomheim, CMOS/CCD Sensors and Camera Systems, SPIE |
| G. R. Hopkinson, T. M. Goodman, S. R. Prince, A Guide to the Use and Calibration of Detector Array Equipment, SPIE |
| J.R.Janesick, Photon Transfer DN -> Lambda, SPIE |
Abschlussprüfung
| Details | Klausur mit Rechen- und Verständnisaufgaben |
|---|---|
| Mindeststandard | 50% der Maximalpunktzahl |
| Prüfungstyp | Klausur |
Lernziele
| Zieltyp | Beschreibung |
|---|---|
| Kenntnisse | Elektrische Eigenschaften der Sensorik - Pixelfunktionen (Halbleiter / innerer Photoeffekt, Photo-/Dunkelstrom, Elektronentransport und Ladung-/Spannung-Wandlung) - CCD-Funktionen (Ladungstransport, Binning, Multiple Output, CCD-Architekturen) - CMOS-Funktionen (Auslesevorgang, Belichtungssteuerung / Rolling Shutter, HDR-Sensoren, Live-View) - Systemvergleich CCD-CMOS - Modellierung und Vermessung der elektrischen Sensoreigenschaften (Linearisierung, Offset und Gain, Defektpixel, determinierte Signalanteile (FPN, DSNU, PRNU), zufällige Signalanteile (echtes Rauschen), Einfluss der Temperatur) Optische Eigenschaften der Sensorik - Optischer Aufbau (Antialiasing-Filter, Mikrolinsen, IR-Sperrfilter, Farbfilter, Halbleiter-Topographie) - Modellierung und Vermessung der optischen Sensoreigenschaften (Pixel-MTF, Vignettierung, spektrale Empfindlichkeit) Sensorkorrekturverfahren - Linearisierung/Gain- und Offsetkorrektur, Dunkelbildabzug (DSNU), Flatfieldkorrektur (PRNU, Vignettierung) - Multiple-Output-Korrektur - Defektpixel- und Defektclusterkorrektur |
Aufwand Präsenzlehre
| Typ | Präsenzzeit (h/Wo.) |
|---|---|
| Vorlesung | 3 |
| Tutorium (freiwillig) | 0 |
Besondere Voraussetzungen
| keine |
| Begleitmaterial |
elektronische Vortragsfolien zur Vorlesung elektronische Übungsaufgabensammlung |
|---|---|
| Separate Prüfung | Nein |
Lernziele
| Zieltyp | Beschreibung |
|---|---|
| Fertigkeiten | Kennlinienvermessung und -simulation (Photodiode) Elektronische Sensoreigenschaften vermessen Optische Sensoreigenschaften vermessen Ergebnisse darstellen und dokumentieren |
Aufwand Präsenzlehre
| Typ | Präsenzzeit (h/Wo.) |
|---|---|
| Praktikum | 2 |
| Tutorium (freiwillig) | 0 |
Besondere Voraussetzungen
| keine |
| Begleitmaterial | elektronische Versuchsbeschreibungen |
|---|---|
| Separate Prüfung | Ja |
Separate Prüfung
| Prüfungstyp | praxisnahes Szenario bearbeiten (z.B. im Praktikum) |
|---|---|
| Details | kurzes Fachgespräch während der Versuchsdurchführung Berichte zu den Versuchen |
| Mindeststandard | Berichte zu allen Versuchen müssen in korrekter Form mit korrekten Ergebnissen abgegeben worden sein |
Bei Fehlern, bitte Mitteilung an die
Webredaktion der Fakultät IME
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