So weit die Prüfungszahl nicht zu groß ist, wird eine mündliche Prüfung gegenüber einer schriftlichen Prüfung bevorzugt.

In der Prüfung werden auf unterstem Kompetenzniveau Kenntnisse abgefragt. Dies sind beispielsweise die Baugruppen, die in
jedem Mikroskop enthalten sind, der Auflicht- und Durchlicht Strahlengang in einem Mikroskop mit Köhler'scher Beleuchtung, der Einbauort von Ringblende und Phasenring in einem Zernike Phasenmikroskop oder der Grund für die Richtungssensitivität in einem Mikroskop mit Differentiellen Interferen Kontrast.

Auf nächster Kompetenzstufe werden Fertigkeiten geprüft. Dies kann beispielsweise dadurch erfolgen, dass die erforderlichen technischen Schlüsselparameter von Bauteilen in Mikroskopen berechnet werden, entweder auf der Basis von vorgegebenen Anwendungs-Spezifikationen oder auf der Basis von anderen, bereits verbauten Komponenten. Ebenso kann geprüft werden, ob die Einrichtung der Köhlerschen Beleuchtung begründet(!) in allen Schritten beschrieben werden kann. Weitere Fertigkeiten sind überschlägige Abschätzungen
von räumlichen und zeitlichen Kohärenzlängen und die Beschreibung der Auswirkung auf interferometrische Messverfahren wie z.B. DIC, Linnik oder OCT.

Die höchste prüfbare Kompetenzstufe betrifft die Methodenkompetenz. Deren Ausprägung kann überprüft werden, indem ein Anwendungsfall geschildert wird: Eine Aufgabe könnte sein, den Krümmungsradius einer Linsenoberfläche oder einer Augenhornhaut mit einem Mikroskop zu bestimmen. Hier ist die Auswahl des richtigen Mikroskopes entscheidend und auch der Messvorgang und die Auswertung bedürfen einer gut entwickelten Methodenkompetenz. EIne weitere Aufgabe könnte sein, die Phasenverschiebung zwischen zwei Objektstrukturen quatitativ auszumessen. Solche Objektstrukturen können dabei technischer Art sein, oder auch funktionale Bestandteile des Auges, wie Augenhornhaut, Vorderkammer, Linse oder Glaskörper.

Grundeigenschaften von Objekten und Mikroskopen
Schärfentiefe
Amplitduden-, Phasen- und gemischte Objekte
optische Dichte, Absorptionskoeffizient
Brechzahl, optischer Weg, Phasenverschiebung
Phasenlage der Beugungsordnungen
Auflicht, Durchlicht, Hellfeld, Dunkelfeld
Phasen- und Interferenzmikroskope
Optische Kohärenz Tomographie
Kontrast der Abbildung

Konstruktionsprinzipien spezieller Mikroskope
Wellenfront teilende Mikroskope
Differentieller Interferenzkontrast
Interphako
Amplitude teilende Mikroskope
Linnik Interferenzkontrast
Michelson Interferenzkontrast
Mirau Interferenzkontrast
Leitz'sches Mach-Zehner Mikroskop
OCT
Beugunsordnungen teilende Mikroskope
Mirksokop mit Phasenplättchen
Zernike Phasenkontrast

Kohärenz
Sichtbarkeit von Interferenz
zeitliche Kohärenz
räumliche Kohärenz
Kohärenzanforderungen in Mikroskopen
Bedeutung der Kohärenz im OCT

keine

Vergrößerungsreihe im Hellfeld-Durchlicht

Auflösungsbestimmung in einer Aperturreihe

Bildvergleich bei wechselnden Kontrastierungsmethoden

laterale und axiale Größenmessung

Formvermessung mit Linnik-Interferenz und mit konfokalen Methoden

Brechzahlbestimmung mit einem Phasenmikroskop

Isotropieuntersuchungen mit Differentiellen Interferenzkontrast

Kenntnisse:

Vor Antritt des Praktikums sind zu Hause ausgearbeitete Aufgaben vorzulegen.
Die Grundideen zum Versuch werden vor dessen Durchführung im Gespräch erfragt.

Fertigkeiten:

Die Strategie Mikroskope zu justieren, d.h. die axiale und laterale Lage sowie Öffnung von Aperturblende und Feldblende, muss erläutert und beherrscht werden und wird in der Folge auch begleitet.

Das Versuchsprotokoll wird überpüft auf sprachliche Fähigkeiten, insbesondere Wissenschaftlichkeit und Präzision im Ausdruck und Verständnis der Sachzusammenhänge

Methoden :
Die Auswertungen, vor allem die geforderten Interpretationen der Ergebnisse, erfordern immer ein gewisses Maß an Methodenkompetenz und können so überprüft werden.