<!-- * Set USERSTYLEURL = %PUBURLPATH%/%WEB%/DokumentFormat/fonts.css --> ---+!! %FORMFIELD{"TopicClassification"}% %FORMFIELD{"Bezeichnung"}% %TOC{depth="3"}% %STARTSECTION{"no_toc"}% ----- *Verantwortlich:* Prof. Dr. Stefan Altmeyer ---++ Modul ---+++ Organisation <sticky> <table border="0"> <tr valign="top"> <td> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Bezeichnung</th> <tr> <td>Lang</td> <td>%FORMFIELD{"Bezeichnung"}%</td> </tr> <tr> <td>MID</td> <td>BaET2012_LMK</td> </tr> <tr> <td>MPID</td> <td></td> </tr> </table> </td> <td> </td> <td> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Zuordnung</th> <tr> <td>Studiengang</td> <td>%FORMFIELD{"Studiengang"}%</td> </tr> <tr> <td>Studienrichtung</td> <td>%FORMFIELD{"Studienrichtung"}%</td> </tr> <tr> <td>Wissensgebiete</td> <td>O_WMO</td> </tr> </table> </td> <td> </td> <td> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Einordnung ins Curriculum</th> <tr> <td>Fachsemester</td> <td>%FORMFIELD{"Fachsemester"}%</td> </tr> <tr> <td>Pflicht</td> <td>%FORMFIELD{"Pflicht"}%</td> </tr> <tr> <td>Wahl</td> <td>%FORMFIELD{"Wahl"}%</td> </tr> </table> </td> <td> </td> <td> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Version</th> <tr> <td>erstellt</td> <td>2012-06-05</td> </tr> <tr> <td>VID</td> <td>1</td> </tr> <tr> <td>gültig ab</td> <td>WS 2012/13</td> </tr> <tr> <td>gültig bis</td> <td></td> </tr> </table> </td> </tr> </table> </sticky> ---++++ Zeugnistext ---+++++ de Angewandte Optik ---+++++ en Applied Optics ---++++ Unterrichtssprache Deutsch oder Englisch ---+++ Modulprüfung <sticky> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Form der Modulprüfung</th> <tr> <td>sMP</td> <td>Regelfall (bei großer Prüfungszahl: sK)</td> </tr> </table> </sticky> <sticky> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Beiträge ECTS-CP aus Wissensgebieten</th> <tr> <td>%FORMFIELD{"Wissensgebiet1Text"}%</td> <td>%FORMFIELD{"Wissensgebiet1Value"}%</td> </tr> <tr> <td>Summe</td> <td>%FORMFIELD{"ECTS"}%</td> </tr> </table> </sticky> *Aufwand [h]:* %FORMFIELD{"Aufwand"}% ---+++ anerkennbare LV * [[F07_LMK]] ----- ---++ Prüfungselemente %STARTSECTION{"Vorlesung/Übung"}% ---+++ Vorlesung/Übung <sticky> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Form Kompetenznachweis</th> <tr> <td>bÜA</td> <td>Präsenzübung und Selbstlernaufgaben</td> </tr> </table> </sticky> <sticky> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Beitrag zum Modulergebnis</th> <tr> <td>bÜA</td> <td>unbenotet</td> </tr> </table> </sticky> ---++++ Spezifische Lernziele ---+++++ Kenntnisse * Grundeigenschaften von Objekten und Mikroskopen kennen (PFK.1, PFK.2, PFK.3, PFK.4, PFK.5, PFK.11, PFK.13) * Schärfentiefe * Amplitduden-, Phasen- und gemischte Objekte * optische Dichte, Absorptionskoeffizient * Brechzahl, optischer Weg, Phasenverschiebung * Phasenlage der Beugungsordnungen * Auflicht, Durchlicht, Hellfeld, Dunkelfeld * Phasen- und Interferenzmikroskope * Kontrast der Abbildung * Konstruktionsprinzipien spezieller Mikroskope kennen(PFK.1, PFK.2, PFK.3, PFK.4, PFK.5, PFK.7, PFK.11, PFK.13) * Wellenfront teilende Mikroskope * Differentieller Interferenzkontrast * Interphako * Amplitude teilende Mikroskope * Linnik Interferenzkontrast * Michelson Interferenzkontrast * Mirau Interferenzkontrast * Leitz'sches Mach-Zehner Mikroskop * Beugunsordnungen teilende Mikroskope * Mirksokop mit Phasenplättchen * Zernike Phasenkontrast * Kohärenz (PFK.1, PFK.2, PFK.3, PFK.5, PFK.11) * Sichtbarkeit von Interferenz * zeitliche Kohärenz * räumliche Kohärenz ---+++++ Fertigkeiten * (PFK.2, PFK.3, PFK.4, PFK.5, PFK.7, PFK.11, PFK.13) * Berechnen von * Schärfentiefen * geometrisch optisch * Wellenoptisch * optischen Dichten, Absorptionskoeffizienten, Bilddynamik * Kontrast im Phasenkontrast * Auflösungsvermögen * Abschätzen von * zeitliche Kohärenz aus spektraler Bandbreite * räumliche Kohärenz aus Quellgröße und Entfernung * Kohärenzanforderungen in verschiedenen Interferenzmikroskopen * Zeichnen und konstruieren von * Beleuchtungsstrahlengängen * Abbildungsstrahlengängen * Erläutern von Konstruktionsprinzipien verschiedener Mikroskope ---++++ Exemplarische inhaltliche Operationalisierung Die Analyse optischer Systme kann an Beispielen der abbildenden Optik, wir z.B. Fernrohr, Kamera, Beamer, Mikroskop erfolgen. Ebenso ist ein Zugang über Eigenschaften von Systeme zur Vermessung von Optiken möglich, wie z.B. Shack-Hartmann Sensoren, Shearing-Platten, oder adaptiv-optischen Systemen. Die Betrachtungen benötigen keine Hardware und können mit Papier und Bleistift vorlesungsbegleitend durchgeführt werden.<br> %ENDSECTION{"Vorlesung/Übung"}% %STARTSECTION{"Praktikum"}% ---+++ Praktikum <sticky> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Form Kompetenznachweis</th> <tr> <td>bFG</td> <td>fachgespräch vor jedem Versuch</td> </tr> <tr> <td>bPA</td> <td>Praktikum, möglichst Einzelarbeit</td> </tr> <tr> <td>sSB</td> <td>schriftlicher Ergebnisbericht</td> </tr> </table> </sticky> <sticky> <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0"> <th colspan="2">Beitrag zum Modulergebnis</th> <tr> <td>bPA</td> <td>Testat oder benotet, 0…30%</td> </tr> </table> </sticky> ---++++ Spezifische Lernziele ---+++++ Fertigkeiten * (PFK.9 PFK.10, PFK.14) * Mikroskope aufbauen und justieren * verschiedene Typen von Mikroskopen bedienen * Mikroskopische Präparate herstellen ---+++++ Handlungskompetenz demonstrieren * (PFK.2, PFK.3, PFK.4, PFK.5, PFK.7, PFK.10, PFK.11,PFK.13, PFK.14) * bei gegebenem Objekt geeignetes Mikroskopisches Verfahren auswählen * Optische Artfeakte sicher erkennen und von Bildstrukturen unterscheiden * Bildqualität beurteilen * Quantitative Analysen mit Mikroskopen durchführen * laterale Größenmessung * Höhenmessung * 3D-Formvermessung * Isotropiemessung * Messung von Materialkenngrößen * Wissenschaftlichen Bericht verfassen * Aufgabenbestellung beschreiben * Lösungsansatz darstellen * Versuchsaufbau erläutern * Verarbeitung der Messdaten darlegen * Ergebnis präsentieren unf kritisch diskutieren ---++++ Exemplarische inhaltliche Operationalisierung Vergrößerungsreihe im Hellfeld-Durchlicht ; Auflösungsbestimmung in einer Aperturreihe ; Bildvergleich bei wechselnden Kontrastierungsmethoden ; laterale und axiale Größenmessung ; Formvermessung mit Linnik-Interferenz und mit konfokalen Methoden ; Brechzahlbestimmung mit einem Phasenmikroskop ; Isotropieuntersuchungen mit Differentiellen Interferenzkontrast<br> %ENDSECTION{"Praktikum"}% %ENDSECTION{"no_toc"}%
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