Lehrveranstaltungshandbuch Lichtmikroskopie
Verantwortlich: Prof. Dr. Stefan Altmeyer
Lehrveranstaltung
Befriedigt Modul (MID)
Organisation
Version |
erstellt |
2011-12-07 |
VID |
1 |
gültig ab |
WS 2012/13 |
gültig bis |
|
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|
Bezeichnung |
Lang |
Lichtmikroskopie |
LVID |
F07_LMK |
LVPID (Prüfungsnummer) |
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Semesterplan (SWS) |
Vorlesung |
2 |
Übung (ganzer Kurs) |
|
Übung (geteilter Kurs) |
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Praktikum |
2 |
Projekt |
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Seminar |
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Tutorium (freiwillig) |
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Präsenzzeiten |
Vorlesung |
30 |
Übung (ganzer Kurs) |
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Übung (geteilter Kurs) |
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Praktikum |
30 |
Projekt |
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Seminar |
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Tutorium (freiwillig) |
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max. Teilnehmerzahl |
Übung (ganzer Kurs) |
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Übung (geteilter Kurs) |
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Praktikum |
18 |
Projekt |
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Seminar |
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Gesamtaufwand: 150
Unterrichtssprache
Niveau
Notwendige Voraussetzungen
- Vektorrechnung
- komplexe Zahlen
- Grundkentnisse geometrische Optik
- Grundkenntisse Wellenoptik
Literatur
Dozenten
- Prof. Dr. Stefan Altmeyer
Wissenschaftliche Mitarbeiter
Zeugnistext
Lichtmikroskopie
Kompetenznachweis
Form |
sMP |
Regelfall (bei großer Prüfungszahl: sK) |
Intervall: 3/Jahr
Lehrveranstaltungselemente
Vorlesung
Lernziele
Lerninhalte(Kenntnisse)
- Schärfentiefe
- geometrisch-optische, gegenstandsseitig
- Nah- und Fernpunkt
- hyperfokale Distanz
- wellenenoptische, bildseitig
- Amplituden- und Phasenobjekte
- Lambert-Beersches Gesetz
- Optische Dichte
- Phase, Brechzahl und optischer Weg
- Abbe'sche Theorie der Bildentstehung
- Relative Phasenlage der Beugungsordnungen
- bei Amplitudenobjekten
- bei Phasenobjekten
- Phasenmikroskop
- mit Phasenplättchen
- Lage und Größe der nullten Beugungsordnung
- räumliche Kohärenz
- Beugungsartefakte
- nach Zernike
- Lage und Größe der nullten Beugungsordnung
- räumliche Inkohärenz
- Babinet'sches Prinzip
- Beugungsartefakte
- Kontrastfunktion
- Dämpfung im Phasenring
- Kohärenz
- Sichtbarkeit von Interferenz
- zeitliche Kohärenz
- Länge von Wellenpaketen
- spektrale Zusammesetzung von Wellenpaketen
- Zeitversatz beim Eintreffen von Amplituden-geteilten Wellenpaketen
- zeitlicher schneller Wechsel von Interferenzmustern
- Kohärenzzeit
- räumliche Kohärenz
- ortsgeteilte Wellenpakete
- Phasenverschiebung zwischen ortsgeteilten Wellenpaketen in abhängigkeit von der Quellpunktlage
- räumliche Überlagerung von Interferenzmustern
- räumliche Kohärenzlänge
- Interferometer
- Michelson
- Kompensationsplatte
- zweites Interferenzbild
- Mach-Zehnder
- Phasensprünge bei Reflexion
- Komplementarität der Interferenzbilder
- Kontrast bei ungleicher Teilung
- Eindeutigkeit von Interferenzmustern
- Weißlichtinterferometer
- Interferenzfarben und Kontrastfunktion
- Interferenzmikroskop
- nach Linnik
- nach Michelson
- Objektive mit großem Arbeitsabstand
- nach Mirau
- Differentieller Interferenzkontrast
- Doppelbrechung
- Modifikation des Huygen'schen Prinzips
- Indikatrix
- Wollaston-, Nomarksi- und Smith Prismen
- Aufspaltung unter der Auflösungsgrenze
- Interferenzfarben
- Basisgangunterschied und Lambda Platte
- Kohärenzbedingungen im DIC
- zeitlich
- räumlich
- Polarisation
- Transmissions-Interferenzmikroskope
- Leitz'sches Mach-Zehnder Interferenzmikroskop
- Interphako Mikroskop
Fertigkeiten
- Schärfentiefen berechnen
- optische Dichten, Dynamik von Bildern und Absorptionskoeffizienten ineinander umrechnen
- Lage und Größen von Phasenringen und Ringblenden in Zernike Phasenmikroskopen berechnen
- zeitliche Kohärenz aus spektraler Bandbreite abschätzen
- räumliche Kohärenz aus Quellgröße und Entfernung abschätzen
- Strahlengänge von Interferenzmikroskopen zeichnen und erläutern
- Konstruktionsprinzipien verschiedener Mikroskope erläutern
Begleitmaterial
- elektronisches Skript
- gedrucktes Skript
Besondere Voraussetzungen
Besondere Literatur
Besonderer Kompetenznachweis
Form |
bÜA |
begeleitend Übungsaufgaben |
Intervall:
Praktikum
Lernziele
Fertigkeiten
- Köhlersche Beleuchtung einstellen
- Längen- und Winkelabgleich in Interferometern durchführen
- Objekte für die Mikroskopie präparieren
Handlungskompetenz demonstrieren
- Mikroskope aufbauen und justieren
- verschiedene Typen von Mikroskopen bedienen
- bei gegebenem Objekt geeignetes Mikroskopisches Verfahren auswählen
- Optische Artfeakte sicher erkennen und von Bildstrukturen unterscheiden
- Bildqualität beurteilen
- Quantitative Analysen mit Mikroskopen durchführen
- an einem Bild erkennen, welches mikroskopische Verfahren benutzt wurde
- Wissenschaftlichen Bericht verfassen
- Aufgabenbestellung beschreiben
- Lösungsansatz darstellen
- Versuchsaufbau erläutern
- Verarbeitung der Messdaten darlegen
- Ergebnis präsentieren unf kritisch diskutieren
Begleitmaterial
- Schriftliche Anleitungen zu den Versuchen
- Bedienungsanleitungen zu komplexen Geräten
Besondere Voraussetzungen
Besondere Literatur
Besonderer Kompetenznachweis
Form |
bFG |
Fachgespräch vor jedem Versuch |
bPA |
Praktkumsversuche (möglichst einzeln!) durchführen |
bSB |
Schriftlicher Bericht zu jedem Versuch |
Beitrag zum LV-Ergebnis |
bPA |
Testat |
bSB |
Testat |
Intervall: 1/Jahr
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