F07_RM < F07_Studium

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---
*Verantwortlich:* Prof. Dr. Stefan Altmeyer

---++ Lehrveranstaltung
---+++ Befriedigt Modul (MID)
   * aktuelle
      * [[MaET2012_RM]]
      * [[MaET2007_RM]]

---+++ Organisation
<sticky>
  <table border="0">
    <tr valign="top">
      <td>
        <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
          <th colspan="2">Version</th>
          <tr>
            <td>erstellt</td>
            <td>2013-04-29</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>VID</td>
            <td>2</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>gültig ab</td>
            <td>WS 2012/13</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>gültig bis</td>
            <td/>
          </tr>
        </table>
      </td>
      <td>         </td>
      <td>
        <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
          <th colspan="2">Bezeichnung</th>
          <tr>
            <td>Lang</td>
            <td>%FORMFIELD{"Bezeichnung"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>LVID</td>
            <td>F07_RM</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>LVPID (Prüfungsnummer)</td>
            <td/>
          </tr>
        </table>
      </td>
    </tr>
  </table>
</sticky><sticky>
  <table border="0">
    <tr valign="top">
      <td>
        <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
          <th colspan="2">Semesterplan (SWS)</th>
          <tr>
            <td>Vorlesung</td>
            <td>%FORMFIELD{"VorlesungSWS"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Übung (ganzer Kurs)</td>
            <td>%FORMFIELD{"UebungGanzSWS"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Übung (geteilter Kurs)</td>
            <td>%FORMFIELD{"UebungHalbSWS"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Praktikum</td>
            <td>%FORMFIELD{"PraktikumSWS"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Projekt</td>
            <td>%FORMFIELD{"ProjektSWS"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Seminar</td>
            <td>%FORMFIELD{"SeminarSWS"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Tutorium (freiwillig)</td>
            <td>%FORMFIELD{"TutoriumSWS"}%</td>
          </tr>
        </table>
      </td>
      <td>    </td>
      <td>
        <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
          <th colspan="2">Präsenzzeiten</th>
          <tr>
            <td>Vorlesung</td>
            <td>%FORMFIELD{"VorlesungPZ"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Übung (ganzer Kurs)</td>
            <td>%FORMFIELD{"UebungGanzPZ"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Übung (geteilter Kurs)</td>
            <td>%FORMFIELD{"UebungHalbPZ"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Praktikum</td>
            <td>%FORMFIELD{"PraktikumPZ"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Projekt</td>
            <td>%FORMFIELD{"ProjektPZ"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Seminar</td>
            <td>%FORMFIELD{"SeminarPZ"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Tutorium (freiwillig)</td>
            <td>%FORMFIELD{"TutoriumPZ"}%</td>
          </tr>
        </table>
      </td>
      <td>    </td>
      <td>
        <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
          <th colspan="2">max. Teilnehmerzahl</th>
          <tr>
            <td>Übung (ganzer Kurs)</td>
            <td>%FORMFIELD{"UebungGanzTeilnehmer"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Übung (geteilter Kurs)</td>
            <td>%FORMFIELD{"UebungHalbTeilnehmer"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Praktikum</td>
            <td>%FORMFIELD{"PraktikumTeilnehmer"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Projekt</td>
            <td>%FORMFIELD{"ProjektTeilnehmer"}%</td>
          </tr>
          <tr>
            <td>Seminar</td>
            <td>%FORMFIELD{"SeminarTeilnehmer"}%</td>
          </tr>
        </table>
      </td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

*Gesamtaufwand:* %FORMFIELD{"Gesamtaufwand"}%

---++++ Unterrichtssprache
   * Deutsch

---++++ Niveau
   * %FORMFIELD{"Niveau"}%
---++++ Notwendige Voraussetzungen
   * Ingenieur-Mathematik auf Bachelor Niveau
   * Grundkenntnisse zu elektromagnetischen Feldern
   * Grundkenntnisse der geometrischen- und der Wellenoptik

---++++ Literatur
   * Reimer: Scanning Electron Microscopy (Springer)
   * Meyer, Hug, Bennewitz: Scanning Probe Microscopy (Springer)
   * Wilhelm, Gröbler, Gluch, Heinz: Die konfokale Laser Scanning Mikroskopie (Carl Zeiss)

---++++ Dozenten
   * Prof. Dr. Stefan Altmeyer



---++++ Wissenschaftliche Mitarbeiter
   * Dipl.-Ing. Wolfgang Stein

---++++ Zeugnistext
Rastermikroskopie

---+++ Kompetenznachweis
<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Form</th>
    <tr>
      <td>sMP</td>
      <td>100% (mündliche Prüfung)</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Aufwand [h]</th>
    <tr>
      <td>sMP</td>
      <td>10</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

*Intervall:* 2-3/Jahr

-----
---++ Lehrveranstaltungselemente

%STARTSECTION{"Vorlesung / Übung"}%
---+++ <u>Vorlesung / Übung</u>

---++++ Lernziele 
---+++++ Lerninhalte (Kenntnisse)
   * Elektronenmikroskopie
      * Welle-Teilchen-Dualismus von Elektronen und de Broglie Wellenlänge
      * relativistischer Massenzuwachs
      * Auflösungsvermögen Elektronen-optischer Systeme
      * Tiefenschärfe im Elektronenmikroskop
      * Elektronenemission
         * Physik der Elektronenemission
            * thermoionische Emission
            * Schottky-Emission
            * Feldemission
         * technischer Aufbau von Elektronenemittern
         * Brightness als Erhaltungsgröße im Elektronenstrahl
      * magnetische Ablenkeinheiten
         * Fokussierlinsen
         * Bewegungsgleichung von Elektronen in Fokussierlinsen
         * Ansätze zur Minimierung von Abbildungsfehlern in elektronenoptischen Systemen
         * Scansysteme
      * Elektron-Materie-Wechselwirkung
         * Primärelektronen
         * Sekundärelektronen
         * Auger-Elektronen
         * Röntgen-Kontinuum
         * Charakteristische Röntgenstrahlung
         * Kathodoluminiszenz
      * Everhart-Thornley Detektor
      * Elektronen-Kontraste
         * Topographie-Kontrast
         * Material-Kontrast
         * Gitterorientierungs-Kontrast
         * Leitfähigkeitskontrast
   * Tunnelmikroskopie
      * Wellenfunktion
         * Definition
         * Stetigkeit und stetige Differenzierbarkeit
         * Wahrscheinlichkeitsinterpretation
      * Prinzuipo
         * Potentialdiagramm
         * Ferminiveau
         * Austrittsarbeit
         * quantenmechanische Berechnung der Tunnelwahrscheinlichkeit
         * vorgespannte Tunnelbarriere und WKB Näherung
      * Piezoantriebe
         * physikalische Grundlagen
         * Nichtlinearität, Hysterese, creep
      * Grundzüge der Regelungstechnik im Tunnelmikroskop
      * Präparation von Tunnelspitzen
      * Bild als Messsignal
         * Faltung von Objekt und Spitze
         * Gitterauflösung und atomare Auflösung
   * konfokale Mikroskopie
      * Prinzip der konfokalen Blenden
         * Prinzip des optischen Schneidens
         * laterale Auflösung und axiale Auflösung
         * Pupillenausleuchtung und Überstrahlung beim konfokalen LSM
         * Justageproblematik
      * Nipkow-Scheibe
         * Justagefreiheit
         * Probleme der Lichtausbeute und Reflexionen
         * rotierendes Mikrolinsenarray
      * konfokale Farblängsfehler-Sensoren

---+++++ Fertigkeiten
   * Elektronenmikroskopie
      * klassische und relativistische Elektronengeschwindigkeit berechnen
      * Wellenlänge von Elektronen berechnen
      * Auflösungsvermögen eines elektronenoptischen Systems berechnen
      * die unterscheidlichen Regime der Elektronenemission erläutern
      * die verschiedenen Elektron-Materie Wechselwirkungen erklären
      * den Aufbau eines Everhart-Thornley Detektors skizzieren und erklären
      * Tiefenschärfe einer Aufnahme berechnen
   * Tunnelmikroskopie
      * das Potential-Ort Diagramm für einenTunnelprozess skizzieren und erläutern
      * den Ansatz zur Berechnung der Tunnelwahrscheinlichkeit darstellen
      * den Unterschied zwischen atomarer- und Gitterauflösung erklären
   * konfokale Mikroskopie
      * für gegebene laterale und axiale Auflösung die erforderlichen Pinholes dimensionieren


---++++ Begleitmaterial 
   * elektronisches Skript
   * gedrucktes Skript


---++++ Besondere Voraussetzungen 
   * keine


---++++ Besondere Literatur 
   * keine


---++++ Besonderer Kompetenznachweis 
<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Form</th>
    <tr>
      <td>bÜA</td>
      <td>begleitend Übungsaufgaben</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Beitrag zum LV-Ergebnis</th>
    <tr>
      <td>bÜA</td>
      <td>unbenotet</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

*Intervall:* 1/Jahr

%ENDSECTION{"Vorlesung / Übung"}%



%STARTSECTION{"Praktikum"}%
---+++ <u>Praktikum</u>

---++++ Lernziele 
---+++++ Fertigkeiten
   * praktischer Umgang mit
      * Elektronenmikroskopen
      * Tunnelmikroskopen
      * konfokalen Mikroskopen


---++++ Begleitmaterial 
   * elektronische Vortragsfolien zur Vorlesung


---++++ Besondere Voraussetzungen 
   * keine


---++++ Besondere Literatur 
   * keine


---++++ Besonderer Kompetenznachweis 
<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Form</th>
    <tr>
      <td>bFG</td>
      <td>Fachgespräch vor jedem Versuch</td>
    </tr>
    <tr>
      <td>bPA</td>
      <td>Praktikumsversuche</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Beitrag zum LV-Ergebnis</th>
    <tr>
      <td>bFG</td>
      <td>Voraussetzung für Prüfungszulassung</td>
    </tr>
    <tr>
      <td>bPA</td>
      <td>Voraussetzung für Prüfungszulassung</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

*Intervall:* 1/Jahr

%ENDSECTION{"Praktikum"}%



%STARTSECTION{"Projekt"}%
---+++ <u>Projekt</u>

---++++ Lernziele 
---+++++ Handlungskompetenz demonstrieren
   * zu einer vorgegebenen Klasse von Proben eigenständig eine umfassende rastermikroskopische Analyse durchführen
   * Methodenvergleich


---++++ Begleitmaterial 


---++++ Besondere Voraussetzungen 
   * keine


---++++ Besondere Literatur 
   * keine


---++++ Besonderer Kompetenznachweis 
<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Form</th>
    <tr>
      <td>bsB</td>
      <td>schriftlicher, bebilderter Bericht</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

<sticky>
  <table border="1" cellpadding="2" cellspacing="0">
    <th colspan="2">Beitrag zum LV-Ergebnis</th>
    <tr>
      <td>bsB</td>
      <td>Voraussetzung für Prüfungszulassung</td>
    </tr>
  </table>
</sticky>

*Intervall:* 1/Jahr

%ENDSECTION{"Projekt"}%




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Topic-Revision: r7 - 11 Jan 2016, GeneratedContent
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